循序樣式探勘

源於尋找資料庫中的常出現的模式（Ayres, Flannick, Gehrke, & Yiu, 2002），循序樣式探勘是專門用於分析順序資料，發現順序模式的資料探勘演算法。進一步來說，該演算法在一系列的序列中發現有興趣的子序列，其中子序列的可以根據諸如其出現頻率，長度和效果的各種標準來測量。循序樣式探勘有許多生活中的應用，因為數據在許多領域中自然地被編碼為許多領域的符號序列，如生物信息學，電子學習，市場籃子分析，文本和網頁點擊流分析。

Hejmady與Narayanan（2012）在研究整合開發環境（Integrated Development Environment，IDE）中程式除錯的眼動歷程（見圖1），該研究使用了循序樣式探勘的技術，計算眼動歷程中出現的模式頻率，如圖2為模式出現頻率，發現短暫的觀看程式碼至動態視覺區域之模式，有較多的出現次數（見圖2）。

圖1　整合開發環境介面。資料來源：Hejmady與Narayanan（2012）。

圖2　模式出現頻率。資料來源：Hejmady與Narayanan（2012）。